Отображаются все 8 результатов
-
ПТСХ-АФ-А аналитические (алюминиевая основа)
Быстрый просмотрПластины Sorbfil (ТУ 4215-002-43636866-2007) предназначены для проведения анализа веществ методом тонкослойной хроматографии. Пластины Sorbfil выпускаются на полимерной (полиэтилентерефталатной) или алюминиевой подложке с нанесённым рабочим слоем фракционированного широкопористого силикагеля с толщиной 90-120 мкм, закреплённого специальным связующим компонентом. Допустимая толщина слоя сорбента на одной пластине составляет ±5 мкм.
-
ПТСХ-АФ-А-УФ аналитические (алюминиевая основа)
Быстрый просмотрПластины Sorbfil (ТУ 4215-002-43636866-2007) предназначены для проведения анализа веществ методом тонкослойной хроматографии. Пластины Sorbfil выпускаются на полимерной (полиэтилентерефталатной) или алюминиевой подложке с нанесённым рабочим слоем фракционированного широкопористого силикагеля с толщиной 90-120 мкм, закреплённого специальным связующим компонентом. Допустимая толщина слоя сорбента на одной пластине составляет ±5 мкм.
-
ПТСХ-АФ-В высокоэффективные (алюминиевая основа)
Быстрый просмотрПластины Sorbfil (ТУ 4215-002-43636866-2007) предназначены для проведения анализа веществ методом тонкослойной хроматографии. Пластины Sorbfil выпускаются на полимерной (полиэтилентерефталатной) или алюминиевой подложке с нанесённым рабочим слоем фракционированного широкопористого силикагеля с толщиной 90-120 мкм, закреплённого специальным связующим компонентом. Допустимая толщина слоя сорбента на одной пластине составляет ±5 мкм.
-
ПТСХ-АФ-В-УФ высокоэффективные (алюминиевая основа)
Быстрый просмотрПластины Sorbfil (ТУ 4215-002-43636866-2007) предназначены для проведения анализа веществ методом тонкослойной хроматографии. Пластины Sorbfil выпускаются на полимерной (полиэтилентерефталатной) или алюминиевой подложке с нанесённым рабочим слоем фракционированного широкопористого силикагеля с толщиной 90-120 мкм, закреплённого специальным связующим компонентом. Допустимая толщина слоя сорбента на одной пластине составляет ±5 мкм.
-
ПТСХ-П-А аналитические (полимерная основа)
Быстрый просмотрПластины Sorbfil (ТУ 4215-002-43636866-2007) предназначены для проведения анализа веществ методом тонкослойной хроматографии. Пластины Sorbfil выпускаются на полимерной (полиэтилентерефталатной) или алюминиевой подложке с нанесённым рабочим слоем фракционированного широкопористого силикагеля с толщиной 90-120 мкм, закреплённого специальным связующим компонентом. Допустимая толщина слоя сорбента на одной пластине составляет ±5 мкм.
-
ПТСХ-П-А-УФ аналитические (полимерная основа)
Быстрый просмотрПластины Sorbfil (ТУ 4215-002-43636866-2007) предназначены для проведения анализа веществ методом тонкослойной хроматографии. Пластины Sorbfil выпускаются на полимерной (полиэтилентерефталатной) или алюминиевой подложке с нанесённым рабочим слоем фракционированного широкопористого силикагеля с толщиной 90-120 мкм, закреплённого специальным связующим компонентом. Допустимая толщина слоя сорбента на одной пластине составляет ±5 мкм.
-
ПТСХ-П-В высокоэффективные (полимерная основа)
Быстрый просмотрПластины Sorbfil (ТУ 4215-002-43636866-2007) предназначены для проведения анализа веществ методом тонкослойной хроматографии. Пластины Sorbfil выпускаются на полимерной (полиэтилентерефталатной) или алюминиевой подложке с нанесённым рабочим слоем фракционированного широкопористого силикагеля с толщиной 90-120 мкм, закреплённого специальным связующим компонентом. Допустимая толщина слоя сорбента на одной пластине составляет ±5 мкм.
-
ПТСХ-П-В-УФ высокоэффективные (полимерная основа)
Быстрый просмотрПластины Sorbfil (ТУ 4215-002-43636866-2007) предназначены для проведения анализа веществ методом тонкослойной хроматографии. Пластины Sorbfil выпускаются на полимерной (полиэтилентерефталатной) или алюминиевой подложке с нанесённым рабочим слоем фракционированного широкопористого силикагеля с толщиной 90-120 мкм, закреплённого специальным связующим компонентом. Допустимая толщина слоя сорбента на одной пластине составляет ±5 мкм.
